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半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则

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　　本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。

发布日期： 2006-8-23
实施日期： 2007-2-1

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